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楼主: jiangbing1975

[讨论] 芯片级ESD防护设计答疑

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发表于 2022-6-21 21:07:37 | 显示全部楼层
看到ESD讲义上有这几种layout画法,可以用更小的尺寸得到更大的HBM值,有没有人试过?效果怎么样?

不同结构

不同结构

对比

对比
发表于 2022-6-22 14:21:43 | 显示全部楼层
还有个问题想问一下:
同样一个VDD到GND的GGNMOS,ESD打击时,VDD->GND加正脉冲,和GND->VDD加负脉冲,放电原理是一样的吗?为什么看到的测试结果不同呢?
发表于 2022-7-3 23:03:30 | 显示全部楼层


power clamp的RC时间常数一般是1us左右?
 楼主| 发表于 2022-7-5 16:23:56 | 显示全部楼层


sujh0755 发表于 2022-6-22 14:21
还有个问题想问一下:
同样一个VDD到GND的GGNMOS,ESD打击时,VDD->GND加正脉冲,和GND->VDD加负脉冲,放电 ...


对正脉冲和负脉冲,ESD电流流经的路径不同,所以效果肯定不一样。
 楼主| 发表于 2022-7-5 16:34:25 | 显示全部楼层


sujh0755 发表于 2022-6-21 21:07
看到ESD讲义上有这几种layout画法,可以用更小的尺寸得到更大的HBM值,有没有人试过?效果怎么样?

...


无论哪种技术,都是为了不把芯片烧毁,那就两种途径:
1)通过降低芯片在泄放ESD能量时的工作电压降低产生的总热量;
2)通过增加ESD电流流过的立体区域让更多的区域承受总热量;
无论哪种技术,基本上都是基于以上两种思路。
不同的器件,承受总热量的立体区域不同,因此面积效率就不一样。
 楼主| 发表于 2022-7-5 16:35:36 | 显示全部楼层


立华奏 发表于 2022-5-30 20:19
大佬,请教一下,现在我们芯片很多电源和地直接用RDL从PAD拉到CORE区域(当然IO的PIN也是接到很充分的), ...


core的电源接的很强和ESD能力没有直接关系。
发表于 2022-7-7 10:59:08 | 显示全部楼层


jiangbing1975 发表于 2022-7-5 16:23
对正脉冲和负脉冲,ESD电流流经的路径不同,所以效果肯定不一样。


多谢答复。我们最近遇到一个ESD问题,请大神帮忙分析一下。
一个ggNMOS,接VDD和GND之间。

尺寸2x480u/0.6u,一个放在VDD旁边,一个放在GND旁边。
HBM打击,
从VDD->GND正脉冲,HBM过了4kv。
从GND->VDD负脉冲,HBM只有1.5kv。
从放电通路来看,都是走的body的寄生三极管,但不知道为什么,负压HBM会弱那么多?
 楼主| 发表于 2022-7-8 09:38:38 | 显示全部楼层


sujh0755 发表于 2022-7-7 10:59
多谢答复。我们最近遇到一个ESD问题,请大神帮忙分析一下。
一个ggNMOS,接VDD和GND之间。


你这么说我也解释不了。我也认为应该是一样的才对。
发表于 2022-7-9 14:16:02 | 显示全部楼层
image.png
在CMOS BCD工艺中电源PAD用了这种ESD保护,发现测试时不到700V HBM就挂了,电源和地之间ESD环的导通电阻也不到1ohm,不知为何HBM为何这么低
发表于 2022-7-12 18:11:55 | 显示全部楼层
楼主 你好 请问powerclamp电路应该如何仿真呢 或者说 如何取检测 电路效果呢
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