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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

发表于 2010-3-31 22:47:22 | 显示全部楼层

半导体集成电路的可靠性设计

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发表于 2010-4-19 22:04:25 | 显示全部楼层

xiexie

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发表于 2010-4-20 10:38:31 | 显示全部楼层

很想看看，呵呵

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发表于 2010-4-28 09:46:16 | 显示全部楼层

顶一下阿

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发表于 2010-4-29 22:21:22 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2010-5-2 22:30:07 | 显示全部楼层

感谢分享，非常好的资料

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发表于 2010-5-3 09:32:52 | 显示全部楼层

Thanks for sharing!

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发表于 2010-5-14 14:26:40 | 显示全部楼层

ding ~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~

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发表于 2010-5-14 16:03:27 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2010-6-10 00:08:48 | 显示全部楼层

谢谢分享

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