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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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iicing
发表于 2010-6-10 00:22:21 | 显示全部楼层
文档很易懂
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jubrpc
发表于 2010-6-10 03:17:21 | 显示全部楼层
恩  看了一下大綱  是一本很不錯的書 謝謝分享
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yuyuking1
发表于 2010-6-29 20:15:34 | 显示全部楼层
很好的资料
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庄周
发表于 2010-7-13 07:43:21 | 显示全部楼层
好书，谢谢分享O(∩_∩)O~
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bleachbleach
发表于 2010-7-21 20:59:26 | 显示全部楼层
太好啦
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holdon2003
发表于 2010-8-9 14:03:01 | 显示全部楼层
1# da不错的哈哈哈iwei88
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ghost0zero
发表于 2010-8-9 18:58:44 | 显示全部楼层
xue xi xuexi
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secondwind
发表于 2010-8-9 19:17:39 | 显示全部楼层
好东西 谢谢楼主的分享
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taiishan
发表于 2010-8-12 11:49:23 | 显示全部楼层
大力支持好东西
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600600
发表于 2010-8-14 16:15:43 | 显示全部楼层
谢谢啊
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