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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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X6J6P6
发表于 2011-7-18 23:08:44 | 显示全部楼层
很好，谢谢楼主。
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derson
发表于 2011-7-20 02:03:24 | 显示全部楼层
学习，顶一下
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sousou000
发表于 2011-7-20 08:51:23 | 显示全部楼层
谢谢分享
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fanwenhua
发表于 2011-8-2 13:42:07 | 显示全部楼层
ding ding ding
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gholly
发表于 2011-8-4 18:47:54 | 显示全部楼层
赞，比较容易看懂，恩
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bingling512
发表于 2011-8-6 22:53:01 | 显示全部楼层
没想到有这么多好东西，谢谢分享!!
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sun350626
发表于 2011-9-19 00:12:48 | 显示全部楼层
thinks
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sun350626
发表于 2011-9-19 00:29:41 | 显示全部楼层
thinks
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jb7955
发表于 2011-9-27 20:42:38 | 显示全部楼层
ADFADFEFASDFASDFASD
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arfeiwy
发表于 2012-3-14 16:44:30 | 显示全部楼层
Thanks for sharing!
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