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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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ligang1986718
发表于 2014-8-11 23:00:39 | 显示全部楼层
多谢，很好的资料
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猴儿mickey
发表于 2014-8-20 13:21:19 | 显示全部楼层
xuexile
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vincent_long
发表于 2014-8-20 15:30:01 | 显示全部楼层
谢谢分享
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vincent_long
发表于 2014-9-2 13:05:40 | 显示全部楼层
竟然是word版本的
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axuan252689
发表于 2014-9-2 13:46:47 | 显示全部楼层
回复 1# daiwei88


    谢谢分享！
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Jimmywww
发表于 2014-9-2 15:50:07 | 显示全部楼层
thx for ur sharing ,this is just what I need
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temp15555
发表于 2014-9-4 22:34:43 | 显示全部楼层
谢谢分享
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lwt231
发表于 2014-11-16 19:46:14 | 显示全部楼层
不错，谢谢分享!
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yangjianha
发表于 2014-11-17 21:26:01 | 显示全部楼层
不错的资料，顶一下
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ra3d
发表于 2014-11-28 23:17:59 | 显示全部楼层
好书，顶起！
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