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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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lixuemeimay
发表于 2016-1-24 19:17:23 | 显示全部楼层
中文资料很难得
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czx0123
发表于 2016-3-12 11:52:48 | 显示全部楼层
扫盲了
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火狼邓
发表于 2016-9-12 14:55:22 | 显示全部楼层
正好需要看看
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123四方
发表于 2016-9-12 18:49:33 | 显示全部楼层
回复 2# daiwei88


   xue xi xuexi
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pxj0557
发表于 2016-9-20 14:43:16 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢分享！！！
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babylu
发表于 2016-10-10 14:11:16 | 显示全部楼层
顶一下啊！！！
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熊仔360
发表于 2017-3-4 14:30:57 | 显示全部楼层
好资料，谢谢分享
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pxj0557
发表于 2017-3-6 11:02:13 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢分享！！！
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worik
发表于 2017-3-6 15:43:25 | 显示全部楼层
good inf
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nixiaodao
发表于 2017-3-12 10:17:45 | 显示全部楼层
SANKS For Sharing
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