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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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duckliton
发表于 2017-7-24 19:21:18 | 显示全部楼层
非常好的资料
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辛中臣
发表于 2017-8-20 23:37:46 | 显示全部楼层
顶一下啊
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mropen
发表于 2017-8-31 10:14:11 | 显示全部楼层
谢谢楼主
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doueer
发表于 2017-9-4 09:49:39 | 显示全部楼层
回复 1# daiwei88


   好资料
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lmffzk
发表于 2017-9-5 23:12:38 | 显示全部楼层
很好的资料啊，顶一下！
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zhangjame
发表于 2017-9-6 15:17:02 | 显示全部楼层
好东西，谢谢分享，学习下
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rfx8@163.com
发表于 2017-10-24 15:48:54 | 显示全部楼层
谢谢分享
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hotelgao
发表于 2017-12-21 09:32:00 | 显示全部楼层
正好需要，真及时
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ylduan_syn
发表于 2018-1-26 22:09:47 | 显示全部楼层
挺好的资料，值得看
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sylflying
发表于 2018-2-7 23:39:03 | 显示全部楼层
thanks
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