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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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slsy
发表于 2018-9-5 15:37:11 | 显示全部楼层
中文的支持
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林小明
发表于 2018-9-6 13:14:59 | 显示全部楼层
Thanks for sharing
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zileo0617
发表于 2018-9-14 10:33:22 | 显示全部楼层
好东西，谢谢楼主
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couldnothelp
发表于 2018-10-15 10:51:47 | 显示全部楼层
有两个图看不了啊，不知道能不能找到原图
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mue1234
发表于 2018-10-19 23:54:29 | 显示全部楼层
哒哒哒哒哒哒多多多
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wuketom
发表于 2018-10-27 22:23:03 | 显示全部楼层
看看学习一下
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wang1409
发表于 2018-10-31 10:43:54 | 显示全部楼层
感谢楼主分享
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林小明
发表于 2018-11-17 20:23:00 | 显示全部楼层
多谢多谢
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fgann112928
发表于 2018-11-17 22:23:23 | 显示全部楼层
都是好资料
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henry_g
发表于 2019-11-27 16:21:01 | 显示全部楼层
虽然是比较老的资料，但内容还是不错的
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