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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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小卒子
发表于 2022-8-11 16:28:30 | 显示全部楼层
不错的资料
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jamesjie
发表于 2022-9-6 11:36:19 | 显示全部楼层
学写下，感谢分享
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LiLXXX
发表于 2022-12-14 22:36:58 | 显示全部楼层
kankannide
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穆子恬欣
发表于 2023-2-22 20:05:58 | 显示全部楼层
谢谢
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dmf336
发表于 2023-3-6 14:04:43 | 显示全部楼层
谢谢分享!
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yuanpin318
发表于 2023-3-8 21:01:39 | 显示全部楼层
谢谢分享
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IC-LOU
发表于 2023-4-20 15:10:33 | 显示全部楼层
感谢楼主的无私分享
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发表于 2023-4-21 11:15:59 | 显示全部楼层
不错，味美料足，很强的指导意义，学习下
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jimcmwang
发表于 2023-5-1 23:44:39 | 显示全部楼层
ASIC可测试性设计技术.rar  784.9 KB, 下载次数: 2577 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元
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cmmjava
发表于 2023-7-9 16:04:38 | 显示全部楼层
感谢分享
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