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1引言
| 2DFT的基本概念
| 2.1Ad Hoc 技术
| 2.2结构化设计技术
| 2.2.1扫描技术
| 2.2.2内建自测试技术
| 3基于ATPG的扫描测试
| 3.1扫描测试的基本原理
| 3.2扫描测试的主要阶段
| 3.3扫描测试的基本时序
| 3.4扫描设计的注意事项
| 4DCXP(Design Compiler expert plus)的使用方法和基本命令
| 4.1建立设计环境
| 4.2未映射设计的DFT流程
| 4.2.1概述
| 4.2.2综合设计
| 4.2.3构造扫描链
| 4.2.4生成测试向量
| 4.3已映射设计的DFT流程
| 4.3.1概述
| 4.3.2两个流程的相同点和不同点
| 4.4DFT实例
| 5常见问题的解决方法
| 5.1基本问题
| 5.1.1冗余逻辑
| 5.1.2门控时钟
| 5.1.3时钟发生器
| 5.1.4异步复位的处理
| 5.2高级问题
| 5.2.1移位寄存器
| 5.2.2总线冲突和总线漂移
| 5.2.3组合反馈环
| 5.2.4latch
| 5.2.1RAM和Unkown cell
| 6边界扫描电路设计
| 6.1边界扫描简介
| 6.2边界扫描电路硬件描述
| 6.3TAP控制器及指令集
| 6.4BSD的基本步骤
| 6.4.1Edit Code
| 6.4.2BSD Configure
| 6.4.3BSD Synthesize
| 6.4.4BSDL and Vector Generation
| 6.4.5BSD Script Example
| 7DCXP和Mentor FastScan结合使用方法的介绍
| 7.1Mentor FastScan简要介绍
| 7.2DCXP和Mentor FastScan结合使用
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发表于 2008-11-25 16:30:48
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