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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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smileasmile2007
发表于 2009-9-28 09:37:52 | 显示全部楼层
下了不能不顶
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bullelai
发表于 2009-9-28 11:15:07 | 显示全部楼层

thanks

why the check number is always is 18
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supper_chen
发表于 2009-9-28 16:36:42 | 显示全部楼层
wfjhiopfhwiopfhiofhiow
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zhanpolily
发表于 2009-10-7 21:54:50 | 显示全部楼层
好东西，看看先，谢谢
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wangjm
发表于 2009-10-8 21:28:34 | 显示全部楼层
thanks a lot
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fatalq
发表于 2009-10-8 21:37:23 | 显示全部楼层
是中文的呢
非常有幫助 ! 謝 !
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qian321
发表于 2009-10-12 10:12:10 | 显示全部楼层
thansss
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vigor_gp
发表于 2009-10-15 20:24:33 | 显示全部楼层
kankankankan
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sq143
发表于 2009-10-19 09:47:10 | 显示全部楼层
支持 1# daiwei88
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dft2009
发表于 2009-10-28 17:42:13 | 显示全部楼层
中文的还是好东西！就是不知道翻译得如何？
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