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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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huaashan
发表于 2009-10-31 22:45:08 | 显示全部楼层
大力支持好东西
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yuanyepeng
发表于 2009-10-31 23:34:56 | 显示全部楼层
这个要看看 谢楼主
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ic@ui
发表于 2009-11-1 13:44:17 | 显示全部楼层
谢谢了
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lee88290743
发表于 2009-11-1 15:26:22 | 显示全部楼层
很好的资料
感谢分享
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happylure
发表于 2009-11-1 20:53:18 | 显示全部楼层
谢谢分享
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feifei2546
发表于 2009-11-1 21:29:13 | 显示全部楼层
多谢分享啊。。。。
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2139
发表于 2009-11-3 11:45:17 | 显示全部楼层
看看再看看
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zhang2_1225
发表于 2009-11-9 16:13:29 | 显示全部楼层
可以啊
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mingrenyc
发表于 2009-11-11 11:27:18 | 显示全部楼层
很好的资料
感谢分享
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caohua1986517
发表于 2009-11-11 13:25:07 | 显示全部楼层
这么多内容，怎么感觉比较小呢？
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