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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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libenzhai
发表于 2009-11-16 16:45:14 | 显示全部楼层
好东西
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chenfengrugao
发表于 2009-11-20 16:33:44 | 显示全部楼层
不错，整理成论文却也不易！thanks
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vigor_gp
发表于 2009-11-21 20:44:59 | 显示全部楼层
haohaohaohao
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rab2002
发表于 2009-11-22 01:57:35 | 显示全部楼层
很好的质料，看俺
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azhao
发表于 2009-11-23 22:11:52 | 显示全部楼层
别掉下去
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chanstudy
发表于 2009-11-24 09:54:57 | 显示全部楼层
hao dong xi
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empty_085
发表于 2009-12-9 10:07:47 | 显示全部楼层
看看啊
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leo_adair
发表于 2009-12-31 11:48:45 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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edalover
发表于 2010-2-26 12:58:34 | 显示全部楼层
kankan
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limingchou
发表于 2010-3-25 19:10:24 | 显示全部楼层
dingding
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