在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

[复制链接]
发表于 2011-2-10 11:04:30 | 显示全部楼层
详细,的介绍,多谢
发表于 2011-2-27 08:34:53 | 显示全部楼层
好东西,谢了!
发表于 2011-3-2 00:48:45 | 显示全部楼层
标准类的东西啊,收了
发表于 2011-5-29 01:32:26 | 显示全部楼层
相当的全和详细
学习formality不可多得的好东西
thanks for sharing
发表于 2011-5-30 22:08:30 | 显示全部楼层
欣赏下~~
发表于 2011-5-31 14:00:28 | 显示全部楼层
thx a lot.
发表于 2011-6-16 13:19:17 | 显示全部楼层
谢谢!!!!!
发表于 2011-6-25 16:21:25 | 显示全部楼层
回复 1# daiwei88


    谢谢啊  很好
发表于 2011-6-25 18:18:29 | 显示全部楼层
很好的资料
感谢分享
发表于 2011-7-18 08:53:19 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-6 19:25 , Processed in 0.021793 second(s), 5 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表