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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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jefffree
发表于 2011-2-10 11:04:30 | 显示全部楼层
详细，的介绍，多谢
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MJxxxsss
发表于 2011-2-27 08:34:53 | 显示全部楼层
好东西，谢了！
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geniuspan
发表于 2011-3-2 00:48:45 | 显示全部楼层
标准类的东西啊，收了
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axz666axz666
发表于 2011-5-29 01:32:26 | 显示全部楼层
相当的全和详细
学习formality不可多得的好东西
thanks for sharing
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microman
发表于 2011-5-30 22:08:30 | 显示全部楼层
欣赏下~~
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cadance
发表于 2011-5-31 14:00:28 | 显示全部楼层
thx a lot.
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chenqi19870628
发表于 2011-6-16 13:19:17 | 显示全部楼层
谢谢！！！！！
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wangwang1983
发表于 2011-6-25 16:21:25 | 显示全部楼层
回复 1# daiwei88


    谢谢啊  很好
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sjx
发表于 2011-6-25 18:18:29 | 显示全部楼层
很好的资料
感谢分享
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allstars52
发表于 2011-7-18 08:53:19 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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