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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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ray_yellow
发表于 2012-3-14 19:12:49 | 显示全部楼层
好帖子不能沉
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shanglid
发表于 2012-3-15 16:57:33 | 显示全部楼层
不错的资料，顶一下
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randolf
发表于 2012-3-22 12:16:51 | 显示全部楼层
看起來不錯的資料感謝分享
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fuyuwang
发表于 2012-3-27 19:25:20 | 显示全部楼层
appreciating
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beckham07360736
发表于 2012-3-27 20:37:02 | 显示全部楼层
good~~~
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dawang_han
发表于 2012-4-10 21:50:24 | 显示全部楼层
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nico0811
发表于 2012-4-10 22:00:47 | 显示全部楼层
VERY GOOD,3X
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guemail
发表于 2012-4-19 18:22:59 | 显示全部楼层
不错的资料，顶一下
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llongice9
发表于 2012-4-23 19:50:28 | 显示全部楼层
正需要呢  感谢LZ
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llongice9
发表于 2012-4-23 20:18:39 | 显示全部楼层
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