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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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zww_ee
发表于 2015-7-27 22:14:15 | 显示全部楼层
楼主资料不错，顶一个
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allanbear
发表于 2015-8-5 14:33:51 | 显示全部楼层
很好的资料，顶顶顶
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deitywp
发表于 2015-8-5 16:45:16 | 显示全部楼层
不错的资料，谢谢分享！！
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hufeng1029
发表于 2015-9-9 13:15:26 | 显示全部楼层
看看！！！
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yangweijlu
发表于 2015-9-22 14:35:20 | 显示全部楼层
非常不错啊
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小开
发表于 2015-10-1 00:21:27 | 显示全部楼层
这学期正好有测试这课
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marco0109
发表于 2015-10-22 19:08:13 | 显示全部楼层
不錯的東西 謝謝分享
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chengbaibai
发表于 2015-10-22 22:17:20 | 显示全部楼层
顶一下
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wyleeona
发表于 2015-10-23 14:01:07 | 显示全部楼层
谢谢！赞
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heidixie
发表于 2016-1-1 21:28:32 | 显示全部楼层
中文看起来快一些
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