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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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doueer
发表于 2018-2-22 13:39:44 | 显示全部楼层
回复 1# daiwei88
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tywang7523
发表于 2018-5-2 14:40:52 | 显示全部楼层
thanks for share
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nick_liu
发表于 2018-5-2 16:23:33 | 显示全部楼层
回复 1# daiwei88 thanks
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echoeswen
发表于 2018-5-15 00:12:57 | 显示全部楼层
谢谢分享
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price_tsai
发表于 2018-5-17 13:24:41 | 显示全部楼层
這帖子看起來不錯，謝謝分享
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eric_2017
发表于 2018-5-21 09:26:43 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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eric_2017
发表于 2018-5-21 09:31:20 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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eric_2017
发表于 2018-5-21 09:32:33 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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xing654321
发表于 2018-7-12 00:04:21 | 显示全部楼层
帮顶一下
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karazhang
发表于 2018-8-6 10:36:30 | 显示全部楼层
很有用的书籍，谢谢楼主分享
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