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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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ONE-PIECE
发表于 2021-11-25 19:13:11 | 显示全部楼层
写的很详细啊，顶一个
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no2rain
发表于 2021-12-2 07:20:31 | 显示全部楼层
多谢分享
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发表于 2021-12-2 11:50:33 | 显示全部楼层
very best !!! Excellent  professional  classical  datas !!!  Thanks for your sharing !!!
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李李李lilili
发表于 2022-4-25 20:37:30 | 显示全部楼层
谢谢
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fatal404
发表于 2022-4-26 09:48:22 | 显示全部楼层
内容看了下确实不错，帮顶
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发表于 2022-4-26 16:12:12 | 显示全部楼层
不错不错，写的很是专业和深度，值得好好琢磨一下
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stefanie_wang
发表于 2022-5-14 02:07:31 | 显示全部楼层
感谢作者，找了好久没有找到
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hanxiong99
发表于 2022-7-6 19:19:20 | 显示全部楼层
thanks!!!!
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李李李lilili
发表于 2022-7-7 16:16:55 | 显示全部楼层
非常感谢
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破晓天目
发表于 2022-8-5 15:02:20 | 显示全部楼层
感谢分享
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