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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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caojiangcheng
发表于 2023-7-10 15:15:22 | 显示全部楼层
谢谢
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发表于 2023-7-14 11:26:02 | 显示全部楼层
系统性强，内容全面专业深度，学习下
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18812436116
发表于 2023-7-17 19:28:27 | 显示全部楼层
Thanks！
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发表于 2023-7-18 11:30:00 | 显示全部楼层
专业深度，有参考价值，很有指导意义，学习学习
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trash_net
发表于 2023-7-18 14:17:32 | 显示全部楼层
多谢分享
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cmmjava
发表于 2023-10-24 18:48:51 | 显示全部楼层
感谢分享
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peter123chang
发表于 2023-10-25 16:52:07 | 显示全部楼层
感謝大大無私分享,內容豐富圖文並茂.
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发表于 2023-11-24 10:50:12 | 显示全部楼层
内容专业深度全面，很有指导和实用性，学习下
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Markmiao4
发表于 2023-11-24 11:00:35 | 显示全部楼层
So good!
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cactus123
发表于 2023-11-24 12:58:49 | 显示全部楼层
Thanks for sharing!
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