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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料
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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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zz_3070
发表于 2009-8-2 09:49:05 | 显示全部楼层
kankan
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skylee58
发表于 2009-8-5 22:35:16 | 显示全部楼层
下来看看！
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paradisor_pp
发表于 2009-8-26 12:23:00 | 显示全部楼层
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r4006
发表于 2009-8-26 20:08:50 | 显示全部楼层
不错，下来看看先~
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200728015127036
发表于 2009-9-10 14:06:29 | 显示全部楼层
谢谢 啊····
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haibojy
发表于 2009-9-10 20:24:35 | 显示全部楼层
好东西，看看
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leikang
发表于 2009-9-22 21:13:58 | 显示全部楼层
谢谢，
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xinghuajun
发表于 2009-9-23 20:55:11 | 显示全部楼层
dingding ding
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bailin7134
发表于 2009-9-27 23:47:37 | 显示全部楼层
hao a  hao a hao a
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bailin7134
发表于 2009-9-27 23:49:27 | 显示全部楼层
hao a  hao a hao a
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