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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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zfang1974
发表于 2009-5-25 12:18:52 | 显示全部楼层
Very Good
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risccpu
发表于 2009-6-15 16:28:29 | 显示全部楼层
good, thanks
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fnhhs
发表于 2009-7-3 08:58:02 | 显示全部楼层
好书，谢谢分享
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opqfeixue
发表于 2009-7-13 20:55:00 | 显示全部楼层
谢谢了！！！
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wmxhit
发表于 2009-8-4 13:22:12 | 显示全部楼层
谢谢分享
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beyondiz
发表于 2009-8-12 12:28:39 | 显示全部楼层
thanks very much!
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beyondiz
发表于 2009-8-12 12:31:17 | 显示全部楼层
非常感谢
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yuanpin318
发表于 2009-8-19 16:37:46 | 显示全部楼层
good book, I like it
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eeireland
发表于 2009-8-26 05:00:40 | 显示全部楼层
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risccpu
发表于 2009-9-5 10:56:35 | 显示全部楼层
good, thanks.
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