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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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Aimmy
发表于 2008-8-20 12:27:34 | 显示全部楼层
好东西
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huatiantian
发表于 2008-8-31 23:04:23 | 显示全部楼层
very good very powerful
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hainihao
发表于 2008-9-3 22:04:14 | 显示全部楼层
luguo
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amin2008
发表于 2008-9-3 23:41:25 | 显示全部楼层
看看先
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amin2008
发表于 2008-9-3 23:49:41 | 显示全部楼层
还可以  谢了
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viewsult
发表于 2008-9-24 19:44:09 | 显示全部楼层
wonderful,great supprot
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sgsun
发表于 2008-10-1 13:32:39 | 显示全部楼层
爽啊我要顶
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sgsun
发表于 2008-10-1 13:33:55 | 显示全部楼层
再次感谢
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demetrio
发表于 2008-10-19 00:37:37 | 显示全部楼层
比较经典的书籍了
大家赶紧下
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demetrio
发表于 2008-10-19 00:39:43 | 显示全部楼层
大家赶紧下啊
挺不错的
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