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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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lufeng21cn
发表于 2008-11-19 11:24:51 | 显示全部楼层
学习一些，谢谢了
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samkid
发表于 2008-12-2 16:29:10 | 显示全部楼层
谢谢。。。
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zhcheng1
发表于 2008-12-3 14:47:51 | 显示全部楼层
好东西
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machiavelli
发表于 2008-12-6 01:20:01 | 显示全部楼层
正在找这方面资料，谢谢楼主分享
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carefree
发表于 2008-12-9 18:54:03 | 显示全部楼层
thank you very much
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helte320
发表于 2008-12-13 13:40:14 | 显示全部楼层
谢谢了,看看先
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lhzhang
发表于 2008-12-20 16:53:16 | 显示全部楼层
good stuff. thanks a lot
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xiao_jie
发表于 2008-12-26 16:52:09 | 显示全部楼层
好东西啊。谢谢楼主的分享，价值N多刀
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frankaurora
发表于 2008-12-26 21:43:41 | 显示全部楼层
谢谢分享！
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frankaurora
发表于 2008-12-26 21:45:04 | 显示全部楼层
谢谢分享！
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