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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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louyj2005
发表于 2009-1-7 09:36:48 | 显示全部楼层
very good
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louyj2005
发表于 2009-1-7 09:37:56 | 显示全部楼层
谢谢分享！
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jimcmwang
发表于 2009-1-8 11:43:07 | 显示全部楼层
好资料
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wangandcui
发表于 2009-1-14 14:10:29 | 显示全部楼层
好东东，谢谢
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F111
发表于 2009-2-8 13:58:02 | 显示全部楼层
赞一个！！！
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ahjia
发表于 2009-3-25 14:58:59 | 显示全部楼层

Thank

Thanks, Thanks
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ericchen228
发表于 2009-3-26 09:41:00 | 显示全部楼层
Thanks!
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gigiyy
发表于 2009-3-31 22:10:45 | 显示全部楼层
i need it....
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phoenixson
发表于 2009-4-2 15:20:50 | 显示全部楼层
相当不错的资料
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liang_kwok
发表于 2009-4-2 16:52:12 | 显示全部楼层
下来看看！！！
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