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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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haddock
发表于 2009-11-7 00:31:40 | 显示全部楼层
thanks
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haddock
发表于 2009-11-7 00:37:22 | 显示全部楼层
thanks
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siguo001
发表于 2009-11-16 14:55:51 | 显示全部楼层
Good, one book >= one paper, haha!
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siguo001
发表于 2009-11-16 15:04:24 | 显示全部楼层
It looks like good.
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Jerry_Yang
发表于 2009-11-20 16:23:23 | 显示全部楼层
好东西～～～～
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mich_xia
头像被屏蔽
发表于 2009-12-3 16:57:38 | 显示全部楼层
谢谢分享
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risccpu
发表于 2009-12-10 11:04:46 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2009-12-10 11:10:13 | 显示全部楼层
good, thanks.
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jollyzhao
发表于 2009-12-10 15:59:11 | 显示全部楼层
谢谢大家.....
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lisaandlyn
发表于 2009-12-22 21:27:11 | 显示全部楼层
多谢楼主分享~
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