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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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politefish
发表于 2010-4-1 10:46:38 | 显示全部楼层
支持了在下载
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iceplanet
发表于 2010-4-1 23:04:45 | 显示全部楼层
谢谢分享^^
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iceplanet
发表于 2010-4-1 23:06:15 | 显示全部楼层
好东西啊^^
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risccpu
发表于 2010-4-21 12:01:00 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2010-4-21 12:03:15 | 显示全部楼层
good, thanks.
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xcykii
发表于 2010-4-21 19:38:04 | 显示全部楼层
thanks
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weili1002730
发表于 2010-4-30 16:21:36 | 显示全部楼层
xiexie
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weili1002730
发表于 2010-4-30 16:23:36 | 显示全部楼层
xiexie
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zhangshaoxia
发表于 2010-5-4 22:11:03 | 显示全部楼层
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empty_085
发表于 2010-5-19 15:56:16 | 显示全部楼层
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