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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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xcykii
发表于 2010-3-16 09:21:20 | 显示全部楼层
thanks
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ddiva
发表于 2010-3-19 09:16:40 | 显示全部楼层
j看看
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ddiva
发表于 2010-3-19 09:17:50 | 显示全部楼层
1# xhui
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jpfscott
发表于 2010-3-25 17:17:23 | 显示全部楼层
学习学习， 1# xhui
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jpfscott
发表于 2010-3-25 17:25:59 | 显示全部楼层
怎么打开出错啊， 1# xhui
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microeric
发表于 2010-3-25 19:38:23 | 显示全部楼层
hhhhhhhhhhhhhhh好，看了才知道 1# xhui
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hubertabc
发表于 2010-3-25 21:42:36 | 显示全部楼层
a good book
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risccpu
发表于 2010-3-26 11:48:11 | 显示全部楼层
good, thanks.
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vpiplidpi
发表于 2010-3-28 23:23:13 | 显示全部楼层
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politefish
发表于 2010-4-1 10:38:12 | 显示全部楼层
支持了在下载
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