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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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szsqlszsql
发表于 2008-6-10 20:19:12 | 显示全部楼层

666

wo yao gan shou yi xia
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thatisok
发表于 2008-6-13 21:45:43 | 显示全部楼层
hao ziliao a
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thatisok
发表于 2008-6-13 21:58:12 | 显示全部楼层
hao  hao  hao
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lcyang
发表于 2008-6-19 14:45:13 | 显示全部楼层

boundary-scan test a practical approach

太好了！谢谢。非常感谢！！！
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hang1
发表于 2008-6-21 00:50:09 | 显示全部楼层
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hang1
发表于 2008-6-21 00:53:47 | 显示全部楼层
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nickchen
发表于 2008-6-21 21:34:23 | 显示全部楼层
满有用的,对于用JTAG 来设计的Engineer 来说,很不错的数据
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nkgraduate
发表于 2008-6-23 22:59:33 | 显示全部楼层
我正好需要
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nkgraduate
发表于 2008-6-23 23:08:24 | 显示全部楼层
唉，没钱了
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nkgraduate
发表于 2008-6-23 23:09:36 | 显示全部楼层
唉，没钱了
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