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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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wanderwall
发表于 2008-3-19 01:39:01 | 显示全部楼层
楼主辛苦了,非常感谢
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jjw3310
发表于 2008-3-20 18:35:48 | 显示全部楼层
QQQQQQQQQQQ
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jjw3310
发表于 2008-3-20 18:41:42 | 显示全部楼层
9Ding!!!!!!!!
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zjfu99
发表于 2008-3-21 17:04:44 | 显示全部楼层
啥是JTAG ?
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jamesbible
发表于 2008-3-21 20:39:47 | 显示全部楼层
xiexie
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jamesbible
发表于 2008-3-21 20:42:31 | 显示全部楼层
xiexie
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thatisok
发表于 2008-3-29 20:47:34 | 显示全部楼层
感谢阿！真实好
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无处凋零
发表于 2008-3-30 00:59:01 | 显示全部楼层
thx u a lot!
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rdchang917
发表于 2008-4-2 09:55:06 | 显示全部楼层
JTAG is widely used in various ASIC..  good course
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0xffff
发表于 2008-4-3 07:30:13 | 显示全部楼层
好书
下来看看
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