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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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arrowhead2007
发表于 2007-12-15 23:58:17 | 显示全部楼层
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arrowhead2007
发表于 2007-12-15 23:59:07 | 显示全部楼层
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arrowhead2007
发表于 2007-12-16 00:00:08 | 显示全部楼层
:hug:
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arrowhead2007
发表于 2007-12-16 00:12:46 | 显示全部楼层
:)
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arrowhead2007
发表于 2007-12-16 00:14:16 | 显示全部楼层
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fsmczgc001
发表于 2007-12-16 20:19:40 | 显示全部楼层
good，边界扫描，我喜欢
EETOP创芯人才网职位发布入口
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pedro888
发表于 2007-12-18 01:58:17 | 显示全部楼层
thanks for your information..................
thanks......................................................
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clifming123
发表于 2007-12-21 00:21:53 | 显示全部楼层
wo hen xi huan ye !
thangk you !
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ainibubian_920
发表于 2007-12-22 15:36:43 | 显示全部楼层
强烈支持
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wantoread
发表于 2007-12-26 15:47:59 | 显示全部楼层

good!

good book! although it looks some old, published in 1993, it is useful for jtag topic. there's information on its methedology, BSDL, etc.
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