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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach
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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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smaa
发表于 2008-4-3 10:37:36 | 显示全部楼层
thx a lot
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smaa
发表于 2008-4-3 10:38:46 | 显示全部楼层
thx a lot
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xuyun28
发表于 2008-4-10 08:32:41 | 显示全部楼层
thanks
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xuyun28
发表于 2008-4-10 08:34:40 | 显示全部楼层
thanks
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GAO@neusoft05
发表于 2008-4-22 17:09:56 | 显示全部楼层
谢谢，好东西！！！
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unclebearbear
发表于 2008-4-22 23:47:11 | 显示全部楼层

yeah yeah

good stuff.
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jiancongwoo
发表于 2008-4-23 14:52:22 | 显示全部楼层
没钱下载 了 。
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ainibubian_920
发表于 2008-4-23 21:58:40 | 显示全部楼层
Does it belong to practical method
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wanderwall
发表于 2008-4-28 00:43:07 | 显示全部楼层
非常感谢！！
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thatisok
发表于 2008-5-7 20:41:33 | 显示全部楼层
hao dong xia
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