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楼主: jiangbing1975

[讨论] 芯片级ESD防护设计答疑

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发表于 2020-9-28 15:43:05 | 显示全部楼层
学习了,感谢大神分享。
发表于 2020-10-12 20:52:53 | 显示全部楼层
请问,我们平常对芯片防护所说的,系统级和电路级是单纯指片上和片外的区别吗?
个人认为,系统级就是在片外做了一个防护网络。
 楼主| 发表于 2020-12-27 20:12:40 | 显示全部楼层


起风了071 发表于 2020-10-12 20:52
请问,我们平常对芯片防护所说的,系统级和电路级是单纯指片上和片外的区别吗?
个人认为,系统级就是在片 ...


系统级和电路级指的是测试方法的区别,直观来说,芯片带电的状态下的测试叫做系统级,芯片不带电的状态下的测试叫做电路级。没有规定说解决系统级的ESD,不可以在片上采取一些措施,相反,为了解决系统级的问题,通常片上也会增加一些电路来协助解决。
 楼主| 发表于 2020-12-27 20:23:21 | 显示全部楼层


viag 发表于 2020-8-18 23:04
请教一下
芯片有VDDA/VDDD 2个电源
VSSA/VSSD 2个地。


die上有两个电源pad,如果两个电源pad分别对各自的“地“存在clamp,且两个“地”之间存在back to back diode,那么两个电源之间是否一定要求back to back diode,答案是可以有,也可以没有。我做的很多芯片,都是两个电源pad对应两个pin,两个电源pad之间也不存在back to back diode,也从来没有发生过问题。至于不同电压域接口容易出问题,有可能是CDM ESD造成的,不妨在两个电压域的接口处增加CDM ESD保护试试看。

发表于 2021-1-7 11:41:33 来自手机 | 显示全部楼层
楼主对lvtscr了解吗?
 楼主| 发表于 2021-2-8 13:58:49 | 显示全部楼层


baozidepipi 发表于 2021-1-7 11:41
楼主对lvtscr了解吗?


只知道原理,未有实战经验。
发表于 2021-3-6 13:01:26 | 显示全部楼层


myfootprints0 发表于 2020-5-8 17:06
楼主,对于0.18um的工艺,如果用GGNMOS做ESD 器件,NMOS管的length和fingerWidth的值对ESD性能有什么影响? ...


length 大点能增加Rsub,利于寄生NPN早开启导通,但是对于电流Path 增大 Ron增大不好。finger width 一般都小于50um,也不能太小。和layout pattern有关
发表于 2021-3-6 13:06:42 | 显示全部楼层


viag 发表于 2020-8-18 23:04
请教一下
芯片有VDDA/VDDD 2个电源
VSSA/VSSD 2个地。


一般不同GND 之间都会加入b2b Diode的。这个不仅仅是isolate A/D GND噪声,还有助于CDM保护。当然你pacakge 两个GND PAD bonding short会有助于ESD简化设计。
发表于 2021-3-6 13:09:33 | 显示全部楼层


jiangbing1975 发表于 2021-2-8 13:58
只知道原理,未有实战经验。


楼主,请问下,GGNMOS 的snapback曲线的 Vtrig是 PN Vbd点,那Vhold是不是寄生NPN开启的点?
 楼主| 发表于 2021-3-14 18:36:37 | 显示全部楼层


ksj116 发表于 2021-3-6 13:09
楼主,请问下,GGNMOS 的snapback曲线的 Vtrig是 PN Vbd点,那Vhold是不是寄生NPN开启的点?
...


Vtrig就是NPN开启点,NPN开启后,同样的电流只需要更低的电压,因此曲线上会出现负阻区,但器件本身又存在寄生电阻,当电流越大时,寄生电阻上的压降也越大。这样,一个是让器件两端的电压减小,一个是让器件两端的电压增加,当二者达到平衡点时电压就不再降低,此时的电压就是Vhold。
我这样说,你能理解吗?
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