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楼主: jiangbing1975

[讨论] 芯片级ESD防护设计答疑

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发表于 2019-4-15 09:13:11 | 显示全部楼层
楼主:如果IC是简单的逻辑电路,比如与门,或门,器件很少,建立工作状态应该也是非常快的
发表于 2019-5-6 19:32:34 | 显示全部楼层
把楼主的所有回帖读了一遍,获益匪浅!感谢!
顺便请教一个问题:
芯片有个pin想过8KV系统级ESD,但是是5号pin,板子上不能挂电容,所以8KV能量只能经过芯片内的ESD泄放。本想用多个ESD cell并联提高过电流能力,但是foundry提供的5V ESD器件都是GGNMOS结构,有严重的snapback,非常担心导通不均匀造成局部烧毁。
请问楼主有这方面经验吗?可否可以指点一下?
发表于 2019-5-6 19:34:24 | 显示全部楼层


sw004 发表于 2019-4-15 09:13
楼主:如果IC是简单的逻辑电路,比如与门,或门,器件很少,建立工作状态应该也是非常快的 ...


内部走线的寄生电容、电阻算上,很难达到工作状态的
 楼主| 发表于 2019-5-18 22:37:57 | 显示全部楼层


genehuang 发表于 2019-5-6 19:32
把楼主的所有回帖读了一遍,获益匪浅!感谢!
顺便请教一个问题:
芯片有个pin想过8KV系统级ESD,但是是5号 ...


系统级的ESD和芯片级的ESD不是一回事。
ggnmos不能解决系统级的ESD吧。
另外超大管子的ggnmos不均匀开启现象很严重,其实把一个大管子拆分成几个同样的不太大的ggnmos并联,是可以提高该pin的芯片级ESD性能的。
所谓采用double bonding,triple bonding可以增强该pin的ESD性能就是这个意思。

发表于 2019-5-20 18:58:17 | 显示全部楼层


jiangbing1975 发表于 2019-5-18 22:37
系统级的ESD和芯片级的ESD不是一回事。
ggnmos不能解决系统级的ESD吧。
另外超大管子的ggnmos不均匀开启 ...


之前写错了,是个信号pin,所以外围板子上没有保护原件,只能靠芯片内部器件扛系统ESD。
因为没可用的器件可选,ggnmos虽然很危险,但是fab说开启时间是ok的,ns级别可开,最大的问题就是怕导通不均匀。
准备搞8个并联试试了,面积不够也不好再加pad,难呀难。
再次感谢!
发表于 2019-5-21 17:00:11 | 显示全部楼层


jiangbing1975 发表于 2019-5-18 22:37
系统级的ESD和芯片级的ESD不是一回事。
ggnmos不能解决系统级的ESD吧。
另外超大管子的ggnmos不均匀开启 ...


楼主您好,我想请问下为何做double guardring可以提高芯片的ESDD性能?double guardring我个人理解是防止发生latch up用的。望不吝赐教
发表于 2019-5-21 17:03:50 | 显示全部楼层


Curacao 发表于 2019-5-21 17:00
楼主您好,我想请问下为何做double guardring可以提高芯片的ESDD性能?double guardring我个人理解是防止 ...


看错了,不好意思
发表于 2019-5-21 18:02:11 | 显示全部楼层
想问一下VDD CLAMP是如何进行箝位的?
发表于 2019-5-22 11:00:12 | 显示全部楼层
VDD CLAMP设计用nmos做ESD好还是用pmos做ESD好?有什么区别,优缺点在哪里?
 楼主| 发表于 2019-5-25 20:25:00 | 显示全部楼层
芯片的电源和GND之间都存在clamp电路,当芯片受到ESD能量攻击时用来安全的泄放这些ESD能量。
一般来讲电源和地之间的clamp电路有很多种,常用的有三种:第一种是grounded-gated NMOS,第二种是gate-coupled NMOS,还有就是ESD detection + NMOS。结构分别如下:
1.png 2.png 3.png
第一种存在严重的不均匀开启,不能充分发挥NMOS的泄放能力;
第二种有效的改善了第一种不均匀开启的现象,性能得到大大提高;
第一种和第二种都是利用NMOS寄生的BJT开启来泄放ESD能量,版图需要满足ESD layout rule;
第三种是利用NMOS的正常开启来泄放ESD能量,该电路可仿真,且该NMOS版图不需要满足ESD layout rule。
对于90nm以下的器件,第一种和第二种均已不起作用,第三种可以。



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