在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 2641|回复: 4

[求助] 可靠度测试后发现package有漏电

[复制链接]
发表于 2015-11-5 09:42:01 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x

碰到一个500v LDMOS chips 可靠度测试后发现有漏电, 但是如果如果开盖就没事
,


代工有人说是package 材料 .

开盖 DIE 漏电  





发表于 2015-11-8 00:56:40 | 显示全部楼层
可靠度测试是哪项测试? 有很多Failure analysis可以检测package有漏电
 楼主| 发表于 2015-11-9 08:49:04 | 显示全部楼层
回复 2# derek02


    operation life test  .. temp=125  stress
发表于 2015-11-9 09:29:00 | 显示全部楼层
可以做SAT 超声波扫描,可以检测出是否有分层,有分层就是封装漏电了。
 楼主| 发表于 2015-11-9 11:45:17 | 显示全部楼层
沒有 pad peeling    至於 package Delamination  還沒想到   . 但是 decap 後是沒事阿  
why?  package stress 照成 ?
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-6 07:58 , Processed in 0.018168 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表