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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Intel 测试与封装资料----reliability
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楼主: 瓦片

[资料] Intel 测试与封装资料----reliability

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analogmind
发表于 2010-3-28 22:22:34 | 显示全部楼层
很不错，多谢楼主了
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wufuwei
发表于 2010-6-10 08:47:40 | 显示全部楼层
谢谢楼主的分享。有更多这方面的书吗？？
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vickeyzou
发表于 2010-8-3 09:29:46 | 显示全部楼层
好东西！
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dindin198
发表于 2010-8-9 20:26:25 | 显示全部楼层
不知道是什么!
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dindin198
发表于 2010-8-9 20:28:46 | 显示全部楼层
Thanks a lot for share
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iseesky
发表于 2010-8-14 21:54:53 | 显示全部楼层
good!thanks!
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iseesky
发表于 2010-8-15 10:57:30 | 显示全部楼层
good!thanks!
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发表于 2010-8-15 17:34:37 | 显示全部楼层
thanks
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发表于 2010-8-15 17:40:47 | 显示全部楼层
thanks
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发表于 2010-8-15 17:42:14 | 显示全部楼层
thanks
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