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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Intel 测试与封装资料----reliability
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楼主: 瓦片

[资料] Intel 测试与封装资料----reliability

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发表于 2021-8-26 09:13:34 | 显示全部楼层
这个真好，芯片可靠性设计的模板，很有指导和实用性，很专业和深度，学习下
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gubels
发表于 2021-9-10 15:36:57 | 显示全部楼层
Good one

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martin_zheng
发表于 2021-9-13 14:12:55 | 显示全部楼层
感谢分享。
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zhengyanfeng
发表于 2021-9-15 09:37:43 | 显示全部楼层
谢谢！
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