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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Intel 测试与封装资料----reliability
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楼主: 瓦片

[资料] Intel 测试与封装资料----reliability

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DZ小亮
发表于 2013-2-6 08:30:10 | 显示全部楼层
顶，好帖子。测试与封装资料，不错不错
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richardxingxing
发表于 2013-2-6 09:49:58 | 显示全部楼层
多谢楼主共享
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dake1025
发表于 2013-5-14 16:57:55 | 显示全部楼层
SDJFAKSDKJFSDJFKJAS sd卡飞机啊
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helloday
发表于 2013-5-15 17:05:34 | 显示全部楼层
haohaohahaooa
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johnson313
发表于 2016-3-11 14:00:55 | 显示全部楼层
回复 1# 瓦片


      谢谢分享。
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ljcfcb
发表于 2016-3-21 09:22:13 | 显示全部楼层
可靠性测试，需要学习一下~~
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pxj0557
发表于 2016-4-1 18:52:48 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢分享！
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Ryggeor
发表于 2017-8-10 15:42:25 | 显示全部楼层
thnx!
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Kevinf
发表于 2017-8-11 14:29:52 | 显示全部楼层
it is
very good




  1. set a=1
  2. set b=5
  3. echo `$a + $b`


复制代码
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辛中臣
发表于 2017-8-20 23:34:05 | 显示全部楼层
感谢楼主分享
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