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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Intel 测试与封装资料----reliability
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楼主: 瓦片

[资料] Intel 测试与封装资料----reliability

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tianhanw0612
发表于 2011-7-16 03:20:49 | 显示全部楼层
好东西
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ghostrun1
发表于 2012-4-26 22:06:55 | 显示全部楼层
回复 1# 瓦片


    It would be very interesting, downoad it to see.
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xlteam2
发表于 2012-4-28 15:52:28 | 显示全部楼层
very good
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Syn2012
发表于 2012-5-1 11:09:12 | 显示全部楼层
learning something from intel!thanks!
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philhuang
发表于 2012-6-1 08:56:16 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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KINGLYWAY
发表于 2012-12-9 15:07:00 | 显示全部楼层
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nestling
发表于 2012-12-9 15:20:33 | 显示全部楼层
33333333ks
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ldwanglun
发表于 2013-1-17 18:54:08 | 显示全部楼层
楼主，我下了，真的好用吗？
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rohm5000
发表于 2013-1-18 16:26:22 | 显示全部楼层
学习一下
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xlteam11
发表于 2013-2-4 21:52:41 | 显示全部楼层
very good
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