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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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wangy7610
发表于 2016-8-18 16:39:49 | 显示全部楼层
感谢分享
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shnijump
发表于 2016-8-29 17:17:33 | 显示全部楼层
thank you very much
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shu0425
发表于 2016-9-4 20:50:06 | 显示全部楼层
谢谢了，楼主。
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heart
发表于 2016-9-5 23:43:44 | 显示全部楼层
看看！谢谢
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盘古大帝
发表于 2016-9-14 11:26:31 | 显示全部楼层
下下来看看
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zyl14051049
发表于 2016-9-14 21:43:09 | 显示全部楼层
没啥内容！不过谢谢了
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jackyangmr
发表于 2017-11-22 10:29:25 | 显示全部楼层
不错的资料
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发表于 2017-11-22 13:38:40 | 显示全部楼层
谢谢分享
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renhonglei
发表于 2017-12-23 10:31:24 | 显示全部楼层
谢谢分享~~~~
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青云路
发表于 2018-8-1 11:57:41 | 显示全部楼层
顶一下   谢谢！
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