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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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bobxx1234
发表于 2010-5-24 13:36:10 | 显示全部楼层
正在研究这方面，谢谢搂住分享……
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linli
发表于 2010-5-24 16:26:09 | 显示全部楼层
感謝大大無私的分享
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bobxx1234
发表于 2010-5-26 16:08:00 | 显示全部楼层
谢谢咯总局分享……
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nic8862000
发表于 2010-5-26 19:24:54 | 显示全部楼层
全收下了
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nic8862000
发表于 2010-5-26 19:37:21 | 显示全部楼层
...........顶
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mich
发表于 2010-5-26 22:20:24 | 显示全部楼层
看这个怎么样
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ychen1230
发表于 2010-5-31 15:38:48 | 显示全部楼层
下来看看~~好的再介绍给大家~
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digital_first
发表于 2010-6-2 10:50:56 | 显示全部楼层
看看学习下
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yansuanxiti
发表于 2010-6-2 11:41:54 | 显示全部楼层
鉴定一下
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yansuanxiti
发表于 2010-6-2 11:46:09 | 显示全部楼层
讲的太浅了
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