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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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offset
发表于 2010-7-9 16:52:01 | 显示全部楼层
这个一般呀。。。
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庄周
发表于 2010-7-13 07:37:00 | 显示全部楼层
好书，谢谢分享O(∩_∩)O~
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庄周
发表于 2010-7-13 07:57:36 | 显示全部楼层
好书，谢谢分享O(∩_∩)O~
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Roamor
发表于 2010-8-11 22:43:26 | 显示全部楼层
chinese material?
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Roamor
发表于 2010-8-11 22:45:24 | 显示全部楼层
chinese, but only 2 pages.
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darkspring
发表于 2010-8-13 17:52:37 | 显示全部楼层
谢谢你的分享
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mayiqun720
发表于 2010-8-13 18:12:29 | 显示全部楼层
谢谢你的分享
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kaladama
发表于 2010-8-23 20:58:54 | 显示全部楼层
good book 2# jackchang611
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ayamitek
发表于 2010-10-2 23:07:05 | 显示全部楼层
thanks
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slysysu
发表于 2010-11-14 09:52:22 | 显示全部楼层
Thanks a lot
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