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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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jimcmwang
发表于 2014-3-17 15:33:53 | 显示全部楼层
谢谢楼主，学习一下
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mcz1e10
发表于 2014-3-26 00:55:10 | 显示全部楼层
学习学习
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发表于 2014-10-17 10:23:33 | 显示全部楼层
挣钱花，看资料
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tianjiang
发表于 2014-10-18 10:38:37 | 显示全部楼层
感谢分享
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leona_94116401
发表于 2015-3-12 17:00:52 | 显示全部楼层
太简单。
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blg322
发表于 2015-4-3 10:33:33 | 显示全部楼层
谢谢分享谢谢分享
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libinggl
发表于 2015-11-17 21:03:11 | 显示全部楼层
这么业余的东西也拿出来！！！！！！
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jimcmwang
发表于 2015-11-23 10:08:12 | 显示全部楼层
边界扫描(Boundary scan )测试原理

测试
边界扫描(Boundary scan )测试原理

Boundary scan.doc (64 KB)
EETOP创芯人才网职位发布入口
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xinxiangbaiheqd
发表于 2016-2-3 16:05:14 | 显示全部楼层
谢谢谢谢
EETOP创芯人才网简历投递入口
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jr0a
发表于 2016-7-1 14:40:03 | 显示全部楼层
thnks
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