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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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发表于 2022-9-10 08:49:11 | 显示全部楼层
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jacke_jacke
发表于 2022-9-21 10:38:37 | 显示全部楼层
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sutaotao2001
发表于 2022-9-22 06:54:52 | 显示全部楼层
谢谢了
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ichsim
发表于 2022-9-22 08:29:05 | 显示全部楼层
感谢分享
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flow0705
发表于 2022-9-24 10:33:19 | 显示全部楼层
不错，谢谢分享
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发表于 2022-10-18 10:35:27 | 显示全部楼层
不错不错，很好的资料和内容全面丰富，学习下
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LiLXXX
发表于 2022-12-14 22:32:08 | 显示全部楼层
kankan
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pokemon1111
发表于 2023-2-10 18:41:09 | 显示全部楼层
感谢分享
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ar_wu
发表于 2023-3-11 16:32:11 | 显示全部楼层
谢谢
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caojiangcheng
发表于 2023-3-14 09:53:11 | 显示全部楼层
谢谢
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