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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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bobxx1234
发表于 2010-12-9 14:58:43 | 显示全部楼层
xiexie^^
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waynb
发表于 2010-12-17 09:47:27 | 显示全部楼层
看看 下下来了
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linda_wang@1999
发表于 2011-2-18 13:43:05 | 显示全部楼层
Thanks
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coyboy912
发表于 2011-2-18 15:26:21 | 显示全部楼层
O(∩_∩)O哈！，谢谢楼主分享
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yanzhengkuaile
发表于 2011-7-11 16:23:58 | 显示全部楼层
看看 谢谢啦
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rainbow
发表于 2012-3-9 02:34:52 | 显示全部楼层
太简单了，没有参考价值
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jimcmwang
发表于 2012-5-13 18:03:59 | 显示全部楼层
希望有帮助!!!!!
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dada3
发表于 2012-5-15 16:23:15 | 显示全部楼层
顶，，
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dongfengdaodan
发表于 2012-5-16 00:01:11 | 显示全部楼层
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uso23238404
发表于 2012-6-7 17:29:39 | 显示全部楼层
xie xie.............
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