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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 边界扫描(Boundary scan )测试原理
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楼主: iamkenhuang

边界扫描(Boundary scan )测试原理

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542002990
发表于 2013-8-13 13:48:15 | 显示全部楼层
不错资料
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chiyea
发表于 2013-8-21 19:52:21 | 显示全部楼层
不说啥
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杭州太美丽
发表于 2013-8-22 22:07:22 | 显示全部楼层
回复 1# iamkenhuang


    下来看看， 谢谢
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wwwknown
发表于 2013-8-27 09:59:26 | 显示全部楼层
资料一般啊
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zhang9yeah
发表于 2013-10-4 21:33:42 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢分享
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hanyanwang
发表于 2013-10-11 09:40:01 | 显示全部楼层
ding  ~Q!!!!!!!!!!!!!!!!
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yydyong
发表于 2013-10-12 22:05:29 | 显示全部楼层
其实这些东西很重要的，基本功
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tcwyfrex
发表于 2013-10-27 13:17:47 | 显示全部楼层
手下，谢谢！
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feitianfeifei
发表于 2013-11-5 21:43:06 | 显示全部楼层
回复 1# iamkenhuang


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jimcmwang
发表于 2013-11-8 16:24:21 | 显示全部楼层
大力支持好东西
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