可测试性设计（边界扫描、MBIST、scan chain）

suifengqu103 · 发表于 2014-4-12 14:16:28

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这是关于可测试性设计相关的资料，比如边界扫描、MBIST、scan chain。从知网空间下载的几篇代表性的论文，有需要的可以看下。
目录如下：
QQ截图20140412141737.png

可测试设计1.zip (13.81 MB, 下载次数: 1656 )

zhanggd · 发表于 2014-6-2 11:20:39

感谢分享，正需要

lynnzhangcd · 发表于 2014-8-17 18:56:31

感谢，xia载来看看

vincent_long · 发表于 2014-8-19 16:33:31

谢谢分享

vincent_long · 发表于 2014-8-19 16:35:33

谢谢分享

lddyx123 · 发表于 2014-10-27 21:08:55

感谢看

lddyx123 · 发表于 2014-10-27 21:14:42

谢谢啊

cadance · 发表于 2014-10-27 22:18:26

thanks for shaing

icekey · 发表于 2014-11-11 12:50:25

回复 1# suifengqu103

谢啦

ghostrun · 发表于 2014-11-21 20:29:12

回复 1# suifengqu103

Good materials

[资料] 可测试性设计（边界扫描、MBIST、scan chain）