在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
楼主: suifengqu103

[资料] 可测试性设计(边界扫描、MBIST、scan chain)

[复制链接]
发表于 2015-7-16 17:12:11 | 显示全部楼层
关于此点,MENTOR是最强的了.
发表于 2015-7-27 22:13:23 | 显示全部楼层
感谢楼主分享。。。
发表于 2015-7-30 14:03:04 | 显示全部楼层
thx for sharing
发表于 2015-9-2 08:30:02 | 显示全部楼层
好东西,谢谢分享
发表于 2015-9-9 11:02:39 | 显示全部楼层
感谢分享!
发表于 2015-9-9 20:23:36 | 显示全部楼层
谢谢,下载下来看看
发表于 2015-9-29 17:18:11 | 显示全部楼层
谢楼主!
发表于 2015-10-20 16:56:40 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2015-10-20 22:37:47 | 显示全部楼层
下来看看
发表于 2015-10-24 15:12:56 | 显示全部楼层
下载下来要好好学习下
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-24 07:39 , Processed in 0.022250 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表