在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: suifengqu103

[资料] 可测试性设计(边界扫描、MBIST、scan chain)

[复制链接]
发表于 2015-11-7 14:56:00 | 显示全部楼层
讲的稍稍简单了点
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2015-11-9 11:47:11 | 显示全部楼层
感谢分享,谢谢
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-4-15 08:13:35 | 显示全部楼层
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-8-1 21:36:01 | 显示全部楼层
谢谢分享GGG
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-8-1 21:37:35 | 显示全部楼层
谢谢哦
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-8-1 21:38:43 | 显示全部楼层
好东西
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-8-2 17:52:19 | 显示全部楼层
bang bang de
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-8-2 17:52:58 | 显示全部楼层
有时间多看看。。。。。
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-8-3 10:27:33 | 显示全部楼层
谢谢分享!!!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-11-27 09:48:00 | 显示全部楼层
感谢 带走了!
回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条


手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-8-3 05:39 , Processed in 0.018055 second(s), 5 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表