设为首页收藏本站
在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
创芯云服务  : 创芯大讲堂  | 创芯人才网 | 数字IC职业培训  EETOP诚邀线上IC培训讲师!
搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › 数字IC设计【ASIC|IC前端|FPGA】 › 数字IC设计资料(IC前端|FPGA|ASIC) › 可测试性设计（边界扫描、MBIST、scan chain） ...
1234567
返回列表 发新帖
楼主: suifengqu103

[资料] 可测试性设计（边界扫描、MBIST、scan chain）

[复制链接]
zjmcc
发表于 2021-5-14 11:05:45 | 显示全部楼层
多谢分享！
回复 支持 反对

举报

时雨蒙蒙
发表于 2021-7-7 15:45:10 来自手机 | 显示全部楼层
先收藏，谢谢分享
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

icyember
发表于 2021-11-10 11:35:56 | 显示全部楼层
太爱这个网站了~~~
回复 支持 反对

举报

发表于 2021-11-11 11:20:59 | 显示全部楼层
确实不错，很有指导和实用价值，很好的教程，学习下
回复 支持 反对

举报

liangcd
发表于 2021-12-2 09:08:54 | 显示全部楼层
谢谢
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

发表于 2021-12-2 12:05:15 | 显示全部楼层
very best !!! Excellent  professional  classical  datas !!!  Thanks for your sharing !!!
EETOP创芯人才网职位发布入口
回复 支持 反对

举报

LiLXXX
发表于 2022-12-15 10:34:15 | 显示全部楼层
kankan
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

1234567
返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-8 13:56 , Processed in 0.019760 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表