在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜全文
收藏本版 (44) |订阅

资料区 今日: 0|主题: 833|排名: 35 

dft 介绍性文档  ...2 pzmworld 2009-3-17 134790 Serm 6 天前
清华大学芯片测试讲义  ...23456..11 zhongshanli 2008-10-13 10621245 LIUIME 6 天前
[资料] DFT基础  ...2 ys82 2011-2-23 166854 user123random 6 天前
基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析  ...23456 seeklot 2008-7-23 5413868 LIUIME 6 天前
[资料] ASIC可测试性设计  ...2 feilongf91 2010-8-19 125336 LIUIME 6 天前
Design for Test  ...234 pizzazz1978 2009-4-27 3813747 LIUIME 6 天前
[资料] 系统级芯片测试调度最优总线指定方法.pdf  ...2 create 2010-1-1 137129 LIUIME 6 天前
soc asic设计验证和测试方法学  ...23456..16 zw_beyond 2008-5-3 15429293 LIUIME 6 天前
ic 测试原理  ...23456..16 liaochubiao 2007-11-25 15433571 LIUIME 6 天前
测试原理解析 fbzou 2009-6-25 43006 LIUIME 6 天前
[资料] 半导体集成电路的可靠性及评价方法.pdf  ...234 iwaitf 2024-7-20 385886 LIUIME 6 天前
[资料] 经典半导体测试数籍---The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing中文版 GRITG 2025-8-26 3642 LIUIME 6 天前
[原创] ATE log viewer 新人帖  ...2 lhd314 2024-8-2 142521 dmf336 6 天前
[资料] IC测试可靠性测试JESD22吐血整理资料打包  ...2345 wangchenglong 2023-12-8 408675 William_zxh 7 天前
[原创] 微电子电路的可靠性  ...2 Jian835790043 2025-4-9 171801 Xianming 2025-10-31 14:09
[资料] J-STD-002E-2017元器件引子、焊、接柱和导可焊(中文版)  ...2 flamingo123 2025-6-11 121630 nomadik 2025-10-30 21:49
[资料] 【FA】《Microelectronics Failure Analysis Desk Reference》6th edition 2011  ...2 kylinchan 2025-9-11 13948 nomadik 2025-10-30 21:48
[资料] 可测性设计标准 新人帖  ...2 懒惰的小黑熊 2025-4-21 141467 nomadik 2025-10-30 21:41
[资料] Intel 测试与封装资料----reliability  ...23456..9 瓦片 2010-3-18 8524110 nomadik 2025-10-30 21:38
[资料] DFTCompiler DFTMAX and DFTMAX Ultra User Guide zth123 2025-10-28 3257 gyong22 2025-10-29 18:11
发一下做ATE测试的基础资料吧,可以说是宝典,强烈推荐  ...23456..21 chocobocn 2009-10-29 20149697 chen_hanc 2025-10-29 13:45
[原创] 承接芯片设计服务及主流晶圆厂先进制程流片服务+13862124271  ...23 plaza007 2023-1-16 202224 plaza007 2025-10-29 08:24
[求助] 大型SoC DFT设计如何避免局部IR-DROP或PeakPower - [悬赏 99 信元资产] caoxiangrong 2024-6-25 31303 badegg3 2025-10-28 21:00
[资料] SRAM学习资料 新人帖  ...2345 qichao7c 2022-8-17 438033 Wsn110798 2025-10-28 14:42
[资料] 基于JTAG的MBIST设计实现.pdf  ...234 defflin 2012-8-27 309325 andersondon 2025-10-28 13:56
[资料] 发几个有参考意义MBIST,ATPG。JTAG,BSD,basic_scan资料  ...2345 苍天有井自来空 2019-6-12 4815124 pipi7306 2025-10-28 11:30
[资料] IEEE 1149.4-2024 zhong1990 2024-12-27 91067 sshapy_1314 2025-10-27 15:16
[资料] VLSI测试方法学和可测性设计[非扫描版]  ...23456..13 我没逗你玩儿 2016-3-18 12734314 changjy 2025-10-27 11:53
[资料] 超大规模集成电路测试:数字、存储器和溷合信号系统PDF高清版  ...2345 Luojinsheng 2013-5-5 4113426 changjy 2025-10-27 01:44
[资料] 集成电路面试必备之关于测试覆盖率  ...2345 nano_dv 2018-1-5 4812188 changjy 2025-10-27 00:44
[原创] The Fundamentals of Digital Semiconductor Testing中文版  ...23456..10 zhangxiujun7 2022-4-10 9517769 changjy 2025-10-27 00:20
[资料] DFT Design For Test related materials 相关资料  ...23 zxfzpf 2024-2-28 234326 changjy 2025-10-27 00:19
[资料] Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization  ...23 zhimigan 2022-1-5 224933 changjy 2025-10-26 23:58
[资料] DFT 可测性设计 教程 资料  ...23456..8 chen_920903 2019-2-27 7318468 changjy 2025-10-26 23:25
[原创] 一站式芯片设计服务及主流晶圆厂流片代理服务+13862124271  ...2 plaza007 2024-5-6 151668 plaza007 2025-10-26 21:54
下一页 »

快速发帖

还可输入 120 个字符
您需要登录后才可以发帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 ) |网站地图

GMT+8, 2025-11-9 08:32 , Processed in 0.016953 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
返回顶部 返回版块